Si Epitaksi

Deskripsi Singkat:

Si Epitaksi– Raih kinerja perangkat yang unggul dengan Si Epitaxy dari Semicera, yang menawarkan lapisan silikon yang dikembangkan secara presisi untuk aplikasi semikonduktor tingkat lanjut.


Detail Produk

Label Produk

Semiceramemperkenalkan kualitasnya yang tinggiSi Epitaksilayanan, yang dirancang untuk memenuhi standar ketat industri semikonduktor saat ini. Lapisan silikon epitaxial sangat penting untuk kinerja dan keandalan perangkat elektronik, dan solusi Si Epitaxy kami memastikan komponen Anda mencapai fungsionalitas optimal.

Lapisan Silikon yang Ditumbuhkan Secara Presisi Semiceramemahami bahwa fondasi perangkat berperforma tinggi terletak pada kualitas bahan yang digunakan. KitaSi EpitaksiProses dikontrol dengan cermat untuk menghasilkan lapisan silikon dengan keseragaman dan integritas kristal yang luar biasa. Lapisan ini sangat penting untuk aplikasi mulai dari mikroelektronik hingga perangkat listrik canggih, yang mengutamakan konsistensi dan keandalan.

Dioptimalkan untuk Kinerja PerangkatItuSi Epitaksilayanan yang ditawarkan oleh Semicera disesuaikan untuk meningkatkan sifat kelistrikan perangkat Anda. Dengan mengembangkan lapisan silikon dengan kemurnian tinggi dan kepadatan cacat yang rendah, kami memastikan bahwa komponen Anda memiliki kinerja terbaik, dengan mobilitas pembawa yang lebih baik dan resistivitas listrik yang diminimalkan. Optimalisasi ini sangat penting untuk mencapai karakteristik kecepatan tinggi dan efisiensi tinggi yang dituntut oleh teknologi modern.

Fleksibilitas dalam Aplikasi Semicera'SSi Epitaksicocok untuk berbagai aplikasi, termasuk produksi transistor CMOS, MOSFET daya, dan transistor sambungan bipolar. Proses fleksibel kami memungkinkan penyesuaian berdasarkan kebutuhan spesifik proyek Anda, apakah Anda memerlukan lapisan tipis untuk aplikasi frekuensi tinggi atau lapisan tebal untuk perangkat listrik.

Kualitas Bahan UnggulKualitas adalah inti dari semua yang kami lakukan di Semicera. KitaSi Epitaksiprosesnya menggunakan peralatan dan teknik canggih untuk memastikan bahwa setiap lapisan silikon memenuhi standar kemurnian dan integritas struktural tertinggi. Perhatian terhadap detail ini meminimalkan terjadinya cacat yang dapat memengaruhi kinerja perangkat, sehingga menghasilkan komponen yang lebih andal dan tahan lama.

Komitmen terhadap Inovasi Semiceraberkomitmen untuk tetap menjadi yang terdepan dalam teknologi semikonduktor. KitaSi Epitaksilayanan mencerminkan komitmen ini, menggabungkan kemajuan terbaru dalam teknik pertumbuhan epitaxial. Kami terus menyempurnakan proses kami untuk menghasilkan lapisan silikon yang memenuhi kebutuhan industri yang terus berkembang, memastikan produk Anda tetap kompetitif di pasar.

Solusi Khusus untuk Kebutuhan AndaMemahami bahwa setiap proyek adalah unik,Semiceramenawarkan disesuaikanSi Epitaksisolusi yang sesuai dengan kebutuhan spesifik Anda. Baik Anda memerlukan profil doping, ketebalan lapisan, atau penyelesaian permukaan tertentu, tim kami bekerja sama dengan Anda untuk memberikan produk yang memenuhi spesifikasi tepat Anda.

Barang

Produksi

Riset

Contoh

Parameter Kristal

Politipe

4H

Kesalahan orientasi permukaan

<11-20 >4±0,15°

Parameter Listrik

Dopan

Nitrogen tipe-n

Resistivitas

0,015-0,025ohm·cm

Parameter Mekanik

Diameter

150,0±0,2mm

Ketebalan

350±25 m

Orientasi datar primer

[1-100]±5°

Panjang datar primer

47,5±1,5mm

Flat sekunder

Tidak ada

TV

≤5 μm

≤10 μm

≤15 μm

LTV

≤3 μm (5mm * 5mm)

≤5 m(5mm*5mm)

≤10 μm(5mm*5mm)

Busur

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

Melengkung

≤35 μm

≤45 μm

≤55 μm

Kekasaran depan (Si-wajah) (AFM)

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

Struktur

Kepadatan pipa mikro

<1 buah/cm2

<10 buah/cm2

<15 buah/cm2

Kotoran logam

≤5E10atom/cm2

NA

BPD

≤1500 unit/cm2

≤3000 unit/cm2

NA

TSD

≤500 unit/cm2

≤1000 unit/cm2

NA

Kualitas Depan

Depan

Si

Permukaan akhir

CMP wajah-si

Partikel

≤60ea/wafer (ukuran≥0,3μm)

NA

Goresan

≤5ea/mm. Panjang kumulatif ≤Diameter

Panjang kumulatif≤2*Diameter

NA

Kulit jeruk/lubang/noda/goresan/retakan/kontaminasi

Tidak ada

NA

Keripik tepi/lekukan/patah/pelat segi enam

Tidak ada

Daerah politipe

Tidak ada

Area kumulatif≤20%

Area kumulatif≤30%

Penandaan laser depan

Tidak ada

Kualitas Kembali

Selesai kembali

CMP wajah C

Goresan

≤5ea/mm, Panjang kumulatif≤2*Diameter

NA

Cacat bagian belakang (pinggiran/lekukan tepi)

Tidak ada

Kekasaran punggung

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

Penandaan laser belakang

1 mm (dari tepi atas)

Tepian

Tepian

Talang

Kemasan

Kemasan

Epi-ready dengan kemasan vakum

Kemasan kaset multi-wafer

*Catatan: "NA" berarti tidak ada permintaan. Item yang tidak disebutkan mungkin mengacu pada SEMI-STD.

tech_1_2_size
wafer SiC

  • Sebelumnya:
  • Berikutnya: